东北大学17春学期《现代材料测试技术》在线作业123答案
17春学期《现代材料测试技术》在线作业1一、单选题：
1.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是( )。 (满分:5)
A. 正装
B. 反装
C. 不对称
2.用CuKαX射线得到了硅（fcc，a=0.5438nm）的衍射花样, l CuKα=0.1541nm,其第三条衍射线的衍射角为( )。 (满分:5)
A. 14.2°
B. 23.65°
C. 28.06°
D. 34.59°
3.X射线衍射时滤波的目的是( )。 (满分:5)
A. 避免荧光辐射
B. 获得K系单色
C. 防止光电效应
4.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做( )。 (满分:5)
A. 二次电子
B. 背散射电子
C. 俄歇电子
5.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子( )。 (满分:5)
A. 越多
B. 越少
C. 不变
6.电子枪中给电子加速的称为( )。 (满分:5)
A. 阳极
B. 阴极
C. 栅极
7.具有fcc结构晶体的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面( )将出现反射。 (满分:5)
A. （311）
B. （200）
C. （210）
D. A和B。
8.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生( )衍射线。 (满分:5)
A. 三条
B. 四条
C. 五条
D. 六条。
9.由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差，称为( )。 (满分:5)
A. 球差
B. 像散
C. 色差
10.对样品进行表面形貌分析时应使用( )。 (满分:5)
A. X射线衍射（XRD）
B. 透射电镜（TEM）
C. 扫描电镜（SEM）
三、判断题：
1.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
2.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
3.面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射，而 H+K+L 为奇数不出现反射。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
5.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
6.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
7.布拉格方程的物理意义是指原子面对X射线的反射并不是任意的，只有当λ、θ和d三者之间满足此方程时才能发生反射。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
8.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
9.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
10.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
17春学期《现代材料测试技术》在线作业2
一、单选题：
1.倒易点阵（D ）。同济大学四平路 (满分:5)
A. 是晶体的真实点阵
B. 是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵
C. 中倒易矢量*与正空间（hkl）晶面平行
D. 中倒易矢量*的模等于正空间（hkl）晶面间距的倒数
2.色差是一种( )。 (满分:5)
A. 球差
B. 像差
C. 像散
3.X射线衍射时滤波的目的是( )。 (满分:5)
A. 避免荧光辐射
B. 获得K系单色
C. 防止光电效应
4.让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做( )。 (满分:5)
A. 明场成像
B. 暗场成像
C. 中心暗场成像
5.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是( )。 (满分:5)
A. 正装
B. 反装
C. 不对称
6.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做( )。 (满分:5)
A. 衍射衬度
B. 消光距离
C. 偏离矢量
7.塑料一级复型的分辨率一般只能达到( )。 (满分:5)
A. 5nm左右
B. 10nm左右
C. 20nm左右
8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是( )。 (满分:5)
A. 背散射电子
B. 二次电子
C. 吸收电子
D. 透射电子
9.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子( )。 (满分:5)
A. 越多
B. 越少
C. 不变
10.当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( )。 (满分:5)
A. 特征X射线
B. 背反射电子
C. 俄歇电子
三、判断题：
1.晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
2.X射线是一种电磁波，产生X射线的核心部件是X射线管。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
3.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
4.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
5.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
6.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
7.经滤波后的X射线是相对的单色光。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
8.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
9.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
10.扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
17春学期《现代材料测试技术》在线作业3
一、单选题：
1.俄歇电子能谱仪的主要功能是( )。 (满分:5)
A. 测表面成分和晶体结构
B. 测内部化学成分和组织
C. 测表面化学成分
2.样品微区成分分析手段包括( ) 。 (满分:5)
A. WDS、EDS 和XRD
B. WDS、EDS和EPMA
C. TEM、WDS和XRD
3.影响电镜中透镜分辨本领主要是衍射效应和( )。 (满分:5)
A. 像散
B. 球差
C. 色差
4.具有fcc结构晶体的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面( )将出现反射。 (满分:5)
A. （311）
B. （200）
C. （210）
D. A和B。
5.用CuKαX射线得到了硅（fcc，a=0.5438nm）的衍射花样, l CuKα=0.1541nm,其第三条衍射线的衍射角为( )。 (满分:5)
A. 14.2°
B. 23.65°
C. 28.06°
D. 34.59°
6.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做( )。 (满分:5)
A. 衍射衬度
B. 消光距离
C. 偏离矢量
7.物质对X射线的吸收主要是由( )引起的。 (满分:5)
A. 散射
B. 热效应
C. 光电效应
8.通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做( )。 (满分:5)
A. 焦平面
B. 透镜主平面
C. 像平面
9.能谱仪的分辨率比波谱仪( )。 (满分:5)
A. 高
B. 低
C. 相同
10. 透射电镜的两种主要功能是检测( )。 (满分:5)
A. 表面形貌和晶体结构
B. 内部组织和晶体结构
C. 表面形貌和内部组织
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1.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
2.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
3.面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射，而 H+K+L 为奇数不出现反射。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
4.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
5.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
6.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
7.晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
8.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
9.当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
10.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。 (满分:5)
A. 错误
B. 正确
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